三防平板電腦中的SIM 卡電路比較簡單，幾個串接電阻和濾波電容以及一個過壓保護元器件，還有就是CPU到SIM卡之間的引腳連線，電路如圖1 所示。
圖1 SIM卡接口電路
三防平板電腦SIM卡電路的維修
當(dāng)三防平板電腦開機時與網(wǎng)絡(luò)進行鑒權(quán)，這時必有數(shù)據(jù)溝通，盡管時間很短，但測量一定有數(shù)據(jù)，所以在判定SIM卡電路故障時，在這個時隙上進行監(jiān)測是最佳監(jiān)測時間。
檢測SIM卡存在與否的信號只在開機瞬間產(chǎn)生，當(dāng)開機檢測不到SIM卡存在時，將提示“InsertCard（插入卡）”；如果檢測到 SIM 卡已存在，但機卡之間的通信不能實現(xiàn)，會顯示“CheckCard（檢查卡）”；當(dāng) SIM 卡對開機檢測信號沒有響應(yīng)時，平板電腦會提示“InsertCard（插入卡）”；當(dāng)SIM卡在開機使用過程中掉電、由于松動接觸不良或使用報廢卡時，平板電腦會提示“Bad Card/SIM Error”。
三防平板電腦啟動時，在SIM 卡座上用示波器可以測量到SIM_I/O、SIM_CLK、SIM_RST 信號，它們一般是一個3V左右的脈沖。若檢測不到，說明SIM 卡座供電開關(guān)管周邊電阻、電容元器件脫焊或SIM卡卡座脫焊，也有可能是卡座接觸不良，SIM卡表面氧化或是報廢卡。
卡開關(guān)是判斷卡是否插入 CPU 的檢測點，由于卡開關(guān)的機械動作，造成開關(guān)損壞的很多，現(xiàn)在已經(jīng)將此機械的卡開關(guān)去掉了。三防平板電腦通過數(shù)據(jù)的收集來識別卡是否插入，減少了卡開關(guān)不到位或損壞造成的問題。SIM 卡的工作一般都是從電源模塊輸出的，電源又受 CPU 卡接口信號的控制。對于卡電路中的 SIMDATA、SIMCLK、SIMRST，全部是由 CPU 的控制來實現(xiàn)的。雖然基站與網(wǎng)絡(luò)之間的溝通數(shù)據(jù)隨時隨地進行著，當(dāng)平板電腦開機時與網(wǎng)絡(luò)進行鑒權(quán)必有數(shù)據(jù)溝通，這時的測試盡管時間很短，但一定有數(shù)據(jù)，所以在判定卡電路故障時，可在開機瞬間，在SIM卡座上用示波器測量SIMVCC、SIMDAT、SIMCLK、SIMRST信號，它們都是一個 3～5V 左右的脈沖（開一次機只能測量一個）。若測不到，說明 SIM 卡電路有故障。如有一路測不到 3～5V 的脈沖，多為斷路；若 4 路均測不到，多是電源、CPU 虛焊，或電源和CPU之間卡接口電路斷路。
三防平板電腦電源上電期間，SIM 卡按以下次序激活各觸點：RST 低電平狀態(tài)；Vcc 加電；I/O 口處于接收狀態(tài)；Vpp 加電；提供穩(wěn)定的時鐘信號。當(dāng)關(guān)閉電源時，SIM 卡按如下順序工作：RST 低電平狀態(tài)；CLK 低電平狀態(tài)；Vpp 去電；I/O 口低電平狀態(tài)；Vcc 去電。測試方法 ：SIM卡供電為跳變電壓，只能用示波器測量，在每個引腳能測到3～5V電壓，若哪路無電壓則說明哪路有故障。所測波形一般為比較直的直線波形。若每個信號都有鋸齒雜波，說明為VCC供電的濾波電容壞了。在這里只能采取替換方式，不能直接拆掉，因為拆掉會出現(xiàn)不讀卡。若沒有示波器可以用萬用表的電阻擋或二極管擋，測試對地阻值的方法，來測試SIM 卡電路的好壞，如果 SIM 卡引腳對地阻值為無窮大或測不出阻值，說明開路，如果阻值很小或者為零，說明短路，這時應(yīng)著重檢測 SIM 卡保護電路和對地濾波電容的好壞。例如，測量后發(fā)現(xiàn) CLK 信號不正常，只有 2.0 的幅度且有時還達不到并且極不穩(wěn)定，確定為CPU壞。對于無VSIM的信號，可以引線到2.8V的供電端，如果發(fā)現(xiàn)無RST信號，也可以飛線一個RST信號到RST端。
SIM卡的檢修步驟：
① 先測量SIM卡座的RST、IO、CLK、VCC信號，在開機瞬間測量，若無SIM卡的供電（VCC），則檢查卡的供電電路，并注意卡供電線路上的電容以及卡的供電保護管是否漏電，再就是卡的升壓電路。
② 檢查SIM卡座與電源或CPU之間的通信線。
③ 檢查電池檢測電路和卡的開關(guān)電路。
④ 檢查SIM卡的CLK頻率與幅度，它一般由CPU將13MHz信號分頻或由電源管理單元的時鐘電路輸出，SIM 卡的 CLK 頻率一般采用 3.25MHz 或 1.083MHz，幅度與 VSIM信號是一致的。
⑤ 檢查CPU與電源IC之間的SIM卡通信。
⑥ CPU或是電源IC部分有無損壞。
⑦ 軟件原因
